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时代非磁性涂层测厚仪
时代非磁性涂层测厚仪

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产品时间:2024-10-07

简要描述:时代TT230涂层测厚仪能快速无损伤地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。
TT230氧化膜测厚仪体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
测量范围0-1250UM

详情介绍
时代TT230涂层测厚仪丨氧化膜测厚仪丨上海熙浩实业有限公司销售
时代TT230涂层测厚仪是一种超小型的测量仪。时代TT230涂层测厚仪能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪体积小,一体化,特别适用于工程现场测量。

 
上海地区:,上海氧化膜测厚仪
上海时代TT230氧化膜测厚仪的主要技术指标 

  测量原理:涡流法
  测量范围:1~1250μm
  测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
       ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)

时代TT230涂层测厚仪的主要功能

  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。



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